光谱分析仪-扬州测厚仪-江苏一六仪器有限公司

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，扬州测厚仪，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

X射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时，电镀测厚仪，X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面shou  xuan器之一。

江苏一六仪器    测厚仪   多道脉冲分析采集    先进EFP算法

膜厚仪又名膜厚测试仪分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，光谱分析仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。

手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

仪器规格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：55kg

供电电源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：<70%

测厚仪和膜厚仪一样吗

   测厚仪和膜厚仪是不一样的，膜厚测试仪，膜厚仪属于测厚仪的分类，也就是说测厚仪是膜厚仪的上司一样，对此我们也可以来了解下测厚仪跟膜厚仪的一些概念：

测厚仪按原理分类:激光测厚仪、超声波测厚仪、X射线测厚仪、压力测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪、机械接触式测厚仪。

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。