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东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司
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光纤光谱仪,嘉仪自动化(推荐商家),光纤光谱仪 近红外

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  • 发布时间2018年10月21日
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东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司

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主营产品微型光谱仪,SMT零件计数器,锂电池测厚/测重,智能相机/

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如果yà 气管道与电极架有污染物排不出,分析结果会变差。应定期清理电极架及废气通道。

(2)试样表面要平整,纹路一致。当试样放在电极架上时,不能有漏气现象。 如有漏气,激发时声音比较尖锐不正常。

(3)样品与控制标样的磨纹粗细要一致,不能有交叉纹,磨样用力不要过大,而且用力要均匀,用力过大,容易造成试样表面氧化。

(4)对高镍铬钢磨样时,要使用新砂轮片磨样,磨纹操作要求更严格。表面温度特别高时要用冷却水冷却。软金属比如纯铝或铝合金要求用车床或铣床加工,表求表面平整。

(5)避免交叉污染,样品含量有明显差别时要注意更换砂轮片或砂带,车刀或铣刀使用前要擦拭干净。

注意:打磨好样品表面如果残屑不要用口吹,要用干净干燥的洗球吹干净。

(6)电极的最上面应具有一定角度,使光轴不偏离中心,放电间隙应根据仪器说明书要求调节,并保持不变,否则聚焦在分光仪的谱线强度会改变。多次重复放电以后,电极会长尖,电极应通过专业加工,使其符合仪器要求角度或更换电极。激发产生的金属蒸气也会污染电极,所以必须激发一次后就用刷子清理电极。

(7)透镜外表面受到分析时产生金属蒸气的附着,使透过率明显降低,对波长小于200nm的碳、硫、磷谱线的透过率影响更显著,所以聚光镜要进行定期清理。

(8)出射狭缝的位置变化受温度的影响非常大,因此保持分光室内恒温很重要,还要求室内温度保持一致,使出射狭缝不偏离正常。室内温度的升高会增加光电倍增管的暗电流,降低信噪比。湿度大容易导致高压元件发生漏电、放电,使分析结果不稳定。因此,要按照仪器要求,保持实验室内恒温恒湿。

(8)出射狭缝的位置变化受温度的影响非常大,因此保持分光室内恒温很重要,还要求室内温度保持一致,使出射狭缝不偏离正常。室内温度的升高会增加光电倍增管的暗电流,降低信噪比。湿度大容易导致高压元件发生漏电、放电,使分析结果不稳定。因此,要按照仪器要求,保持实验室内恒温恒湿。








光谱仪又称分光仪,分为单色仪和多色仪两种。以光电倍增管等光探测器在不同波长未知,测量谱线强度的装置。由一个入射狭缝,一个颜色散系统,一个成像系统和一个活多个出射狭缝构造组成。 以色散原件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上进行强度测定。光谱仪基本特性的参量有光谱范围、色散率、带宽和分辨本领等。基于干涉原理设计的光谱仪具有很高的色散率和分辨本领,常用于光谱精细结构的分析。目前普遍使用的反射式光栅光谱仪的光谱范围取决于光栅条纹的设计,含有较宽的光谱范围。 光谱仪主要是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器,光谱仪分很多类型,除了可见光波段使用的光谱仪外,还有红外光谱仪和紫外光谱仪。而根据色散元件的不同分为棱镜光谱仪、光栅光谱仪和干涉光谱仪等。若按探测方法分,可直接用眼观察分光镜,用感光片记录摄谱仪,以及用光电或热电元件探测光谱的分光光度计等。而单色仪主要通过狭缝输出单色谱线的光谱仪器,常常与其他分析仪器配合应用。摄谱仪能观察到的光谱范围决定于棱镜等光学元件对光谱的吸收.


一 . 近红外光谱仪分析的化学基础

近红外光谱分析的范围一般为 4000cm-1以上,即波长 2.5μm以下,由于有不同级别的倍频谱带及不同形式组合的合频吸收,使得谱带复杂,信息丰富。

近红光的信息强度比中红外要低一个数目级左右,由于近红外谱区吸收弱,所以可以对不经稀释的样品进行直接丈量,分析样品可以不需任何物理、化学制备与预处理,也不需要分析的后处理,一但近红外的数学模型建立后,对操纵职员进行分析的知识背景与经验背景可以大幅降低。

二 . 近红外光谱仪 光谱分析的数学基础

作为一种软件技术,近红外光谱分析着重用数学方法来解决其谱峰重叠、丈量信息高背景低强度、图谱测定的不稳定造成的光谱失真三大难点。通过化学计量学的多元校正方法来解决谱峰重叠、丈量信息高背景低强度的难点;用信息处理技术来校正图谱测定不稳定造成的光谱失真。

三 . 近红外光谱仪 光谱常规分析方法

近红外光谱的分析测定技术大体可以分为两大类:一类为透射光谱法,一类为反射光谱法。

透射光谱法就是把待测样品置于作用光与检测器之间,检测器所检测到的分析光是作用光通过样品体与样品分子相互作用后的光,若样品是透明的真溶液,则分析光在样品中经过的路程一定,透射光的强度与样品组分浓度由比耳定律决定。

反射光谱分析时,检测器与光源置于待测样品的同一侧,检测器检测到的分析光是光源发出的作用光投射到物体后,以各种方式反射回来的光。物体对光的反射分为规则反射光(镜面反射)与漫反射。规则反射光指在物体表面按进射角即是反射角的反射定律发生的反射。漫反射是光投向漫反射体(颗粒或粉末)后,在物体表面或内部发生的方向不定的反射。

四 . 近红外光谱仪 光谱分析的用途

近红外光谱分析主要包括定性分析和定量分析。

1)定性分析

近红外光谱定性分析利用模式识别与聚类的一些算法,主要用于鉴定。在模式识别运算时需要有一组用于计算机 “ 学习 ” 的样品集,通过计算机运算,得出学习样品在数学空间的范围,对未知样品运算后,若也在此范围内,则该样品属于学习样品集类型,反之则否定。聚类运算时不需学习样品集,它通过待分析样品的光谱特征,根据光谱近似程度进行分类。

2)定量分析

近红外光谱分析与其它吸收光谱按照比耳定律作定量分析类似。作常规光谱定量分析时,需要建立光谱参数与样品含量间的关系(标准曲线)。但对复杂样品作近红外光谱定量分析时,为了解决近红外谱区重叠与谱图测定不稳定的题目,必须充分应用全光谱的信息。这是由于在近红外光谱中和各个谱区内都包含多种成分的信息(即谱峰重叠),而同一种组份的信息分布在近红外光谱的多个谱区:不同组分固然在某一谱区可能重叠,但在全光谱范围内不可能完全相同,因此,为了区别不同组分,必须应用全光谱的信息,建立全谱区的光谱特征与待丈量之间的关系——即数学模型。

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